Mehrere Evidenzquellen verbinden
Fehlerort, elektrische Charakterisierung, Prozesshistorie, Versorgung, Testdaten und mögliche Entladungspfade werden gemeinsam bewertet.
Wahrscheinlichkeit transparent benennen
Kann die Ursache nicht eindeutig belegt werden, dokumentiert der Bericht alternative Hypothesen und Evidenzgrenzen statt einer scheinbar sicheren Diagnose.
Praxisvertiefung
ESD und EOS als konkurrierende Hypothesen prüfen
Schadensbilder können sich überlappen. Eine belastbare Zuordnung benötigt deshalb mehr als Mikroskopie: elektrische Symptome, Energiequelle, Zeitverlauf, Pinbezug und Prozessdaten werden gemeinsam bewertet.
Evidenzmatrix statt Bilddiagnose
Für jede Hypothese werden erwartete Merkmale, bestätigende Daten und widersprechende Befunde gegenübergestellt. Ist keine eindeutige Ursache belegbar, bleibt der Bericht bei einer transparenten Wahrscheinlichkeitsaussage.
- Fehler elektrisch lokalisieren und reproduzierbar beschreiben
- Versorgungs-, Test- und Ereignislogs sichern
- Mögliche elektrostatische und kontinuierliche Stresspfade vergleichen
- Alternative Ursachen und Analysegrenzen erhalten
Quellen und weiterführende Dokumente
Fachlich geprüft
August 2026
Verwandte Begriffe
Begriff
EOS
Electrical Overstress ist eine elektrische Überbeanspruchung eines Bauteils; ESD ist eine mögliche, aber nicht die einzige Ursache elektrischer Schäden.
Begriff
ESDS
ESDS sind Bauteile, Baugruppen oder Geräte, die durch elektrostatische Ereignisse beschädigt oder beeinträchtigt werden können.
Ratgeber
ESD-Fehleranalyse: Ablauf und Grenzen
Elektronische Ausfälle hypothesenbasiert untersuchen und ESD als mögliche Ursache belastbar bewerten.