Mögliche EOS-Ursachen
Fehlversorgung, Transienten, Anschlussfehler, ungeeignete Werkzeuge, Regelungsprobleme oder thermische Überlastung können elektrische Schäden hervorrufen. Das sichtbare Fehlerbild allein beweist die Ursache nicht.
ESD und EOS in der Analyse trennen
Zeitverlauf, Energie, Prozessdaten, Schaltungszustand und physikalische Fehleranalyse werden gemeinsam ausgewertet. Eine vorschnelle ESD-Zuordnung verhindert oft die tatsächliche Ursachenbeseitigung.
Quellen und weiterführende Dokumente
Fachlich geprüft
August 2026
Verwandte Begriffe
Begriff
ESDS
ESDS sind Bauteile, Baugruppen oder Geräte, die durch elektrostatische Ereignisse beschädigt oder beeinträchtigt werden können.
Begriff
Latenter ESD-Schaden
Ein latenter ESD-Schaden kann die Lebensdauer oder Robustheit eines Bauteils beeinträchtigen, ohne sofort einen eindeutigen Funktionsausfall zu erzeugen.
Begriff
HBM
Standardisiertes Modell zur Beschreibung einer Entladung des menschlichen Körpers in ein Bauteil.
Begriff
CDM
Das Charged Device Model klassifiziert die Empfindlichkeit eines aufgeladenen Bauteils bei schneller Entladung gegen ein niedrigeres Potential.