Keine pauschale MOSFET-Empfindlichkeit
Technologie, Geometrie, interne Schutzstrukturen, Gehäuse und Anschluss bestimmen die Robustheit. Allgemeine Spannungsangaben für alle MOSFETs sind fachlich nicht belastbar.
Handhabung an Daten und Prozess ausrichten
Bauteildaten, Verpackung, offene Handhabung, Werkzeuge, Lötprozess und automatisierte Zuführung werden gemeinsam bewertet. Gate-Anschlüsse verdienen Aufmerksamkeit, ersetzen aber keine Gesamtbetrachtung aller Pins.
Fehlerbild nicht vorschnell ESD nennen
Elektrische Überlastung, thermische Ereignisse und Prozessfehler können ähnliche Symptome erzeugen. Eine belastbare Zuordnung erfordert strukturierte Fehleranalyse.
Quellen und weiterführende Dokumente
Fachlich geprüft
August 2026
Verwandte Begriffe
Begriff
ESDS
ESDS sind Bauteile, Baugruppen oder Geräte, die durch elektrostatische Ereignisse beschädigt oder beeinträchtigt werden können.
Begriff
HBM
Standardisiertes Modell zur Beschreibung einer Entladung des menschlichen Körpers in ein Bauteil.
Begriff
CDM
Das Charged Device Model klassifiziert die Empfindlichkeit eines aufgeladenen Bauteils bei schneller Entladung gegen ein niedrigeres Potential.
Begriff
EOS
Electrical Overstress ist eine elektrische Überbeanspruchung eines Bauteils; ESD ist eine mögliche, aber nicht die einzige Ursache elektrischer Schäden.
Begriff
Latenter ESD-Schaden
Ein latenter ESD-Schaden kann die Lebensdauer oder Robustheit eines Bauteils beeinträchtigen, ohne sofort einen eindeutigen Funktionsausfall zu erzeugen.
Ratgeber
Leiterplatten und ESD
Bestückte Leiterplatten bleiben während Fertigung, Prüfung, Lagerung, Transport und Service ESD-gefährdet.